介电常数介质损耗测试仪参数介绍

更新时间：2019-06-24 点击次数：3263

介电常数介质损耗测试仪参数介绍

中航鼎力介电常数测定仪, LJD-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的解决方案。

参数指标

^{附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表}

^{S916测试装置介电常数测试仪高频Q表}


^{平板电容片}	^{Φ50mm/Φ38mm可选}	^频率范围	^{20KHz-60MHz/200KHz-160MHz}
^{间距可调范围}	^≥15mm	^{频率指示误差}	^{3×10-5±1个字}
^{夹具插头间距}	^25mm±0.01mm	^{主电容调节范围}	^{30-500/18-220pF}
^{测微杆分辨率}	^0.001mm	^{主调电容误差}	^<1%或1pF
^{夹具损耗角正切值}	^{≦4×10-4 （1MHz）}	^{Q测试范围}	^2～1023

^{介电常数测试仪}^{附表二,LKI-1电感组典型测试数据}


^线圈号	^测试频率	^Q值	^{分布电容p}	^电感值
⁹	^100KHz	⁹⁸	^9.4	^25mH
⁸	^400KHz	¹³⁸	^11.4	^4.87mH
⁷	^400KHz	²⁰²	¹⁶	^0.99mH
⁶	^1MHz	¹⁹⁶	¹³	^252μH
⁵	^2MHz	¹⁹⁸	^8.7	^49.8μH
⁴	^4.5MHz	²³¹	⁷	^10μH
³	^12MHz	¹⁹³	^6.9	^2.49μH
²	^12MHz	²²⁹	^6.4	^0.508μH
¹	^25MHz 50MHz	^233 211	^0.9	^0.125μH

^{介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪

型号：LJD-C}

^{一.介电常数测试仪主要特点：
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（小于 10 mil）量测值偏低,。}

^{二.介电常数测试仪主要技术特性：
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。}

^{三.介电常数测试仪仪器技术指标：
☆Q值测量：
a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差}