四探针方阻电阻率测试仪

简要描述：四探针方阻电阻率测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

产品型号：
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-04-29
访问量：2574

产品咨询联系我们

产品分类

Product Category

体积表面电阻率测试仪

四探针方阻仪 LST系列高绝缘电阻率测试仪体积表面电阻率测试仪体积电阻率测试仪表面电阻率试验仪直读体积表面电阻率测试仪尼龙体积表面电阻率测试仪绝缘材料体积表面电阻率测试仪橡胶塑料薄膜体积表面电阻率测试仪表面电阻率测试仪

查看全部

详细介绍

品牌	中航鼎力	电源	220v

四探针方阻电阻率测试仪仪描述：

采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

参照标准：

硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

.适用范围：

适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表

用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

规格型model	LST-331
1.方块电阻范围	10^-5～2×10^5Ω/□
2.电阻率范围	10^-6～2×10^6Ω-cm
测试电流范围	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度	±0.1%
5.电阻精度	≤0.3%
6.显示读数	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	普通单电测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差	≤4%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻.
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
12.标准电阻（选购）	规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

四探针方阻电阻率测试仪注意事项：

　1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。

　　2.接通电源调零，（注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接）在“Rx"两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。然后关机。

　　3.将待测试样平铺在不保护电极正中央，然后用保护电极压住样品，再插入被保护电极（不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路）。

　　4.测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边，

　　5.接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档，打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡胶绝缘电阻率的测定标准中注明要求在500V电压进行测定，那么电压就要升到500V)

　　6.电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨，每拨一次停留1-2秒观察显示数字，当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1"，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下，在1min的电化时间后测量电阻，当前的数字乘以档次即是被测电阻。

　　7.测试完毕先将量程拨至（104）档，然后将测量电压拨至10V档，后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。

　　8.应在“Rx"两端开路时调零，一般一次调零后在测试过程中不需再调零。

　　9.禁止将“RX"两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击。

产品咨询

四探针方阻电阻率测试仪

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：